Springe direkt zu Inhalt
Freie Universität Berlin
Gerätezentrum BioSupraMol
Service-Navigation
Startseite
Impressum
Datenschutz
Barrierefreiheit
DE
DE: Deutsch
EN: English
Gerätezentrum BioSupraMol
Menü
Methoden
loading...
Betreiber
loading...
Buchung
loading...
Datenspeicherung
loading...
Lehre
loading...
Publikationen
loading...
Steuerungsgruppe
loading...
Pfadnavigation
Startseite
Methoden
Oberflächenabbildung
Oberflächenabbildung
Methoden:
AFM/SFM - Atomkraftmikroskopie
REM - Raster Elektronemikroskopie
TOF-SIMS - Time-of-Flight SekundärIonen MassenSpektrometrie
ESMA - Elektronenstrahlmikroanalyse
Geräte:
AFM Multimode 8
(
SA-Unit
,
AG Haag)
NanoWizard Ultra
(
AG Bolotin
, BSM)
SU 8030
(
EM-Unit
, BSM)
Iontof M6
(
SA-Unit
, SupraFAB)
JEOL JXA 8200 Superprobe
(
Geo-Unit
, BSM)
Für eine optimale Darstellung dieser Seite aktivieren Sie bitte JavaScript.
Schlagwörter
AFM - Atomkraftmikroskopie
ESMA - Elektronenstrahl Mikroanalyse
REM - Rasterelektronenmikroskopie
TOF-SIMS - Flugzeit-Sekundärionenmassenspektrometrie
