Kontakt:
Dr. Philip Nickl (p.nickl@fu-berlin.de)
web:

Methoden:
XPS - X-ray Photoelectron Spectroscopy, TOF-SIMS - Time Of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Geräte:
Iontof M6 (TOF-SIMS), direkt buchbar, Training notwendig, SupraFAB*
EnviroESCA (XPS), direkt buchbar, Training notwendig, SupraFAB*
Bruker MultiMode 8 (AFM), direkt buchbar, Training notwendig

Services:
keine

Datenspeicherung:
Die Datenspeicherung erfolgt auf dem BCPstorage Netzwerkspeicher (BCPFS).

Buchungsvoraussetzungen:
* nur für SupraFAB user nutzbar
nicht assistierte Messungen möglich, Training erforderlich